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掃描電鏡測(cè)試SEM，x射線能譜測(cè)試EDS

      周主任：

     廣州中科檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司通過(guò)了中國(guó)國(guó)家認(rèn)證認(rèn)可監(jiān)督管理委員會(huì)和中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)的二合一（cma、cnas）實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證認(rèn)可，是的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)。為您出具認(rèn)證報(bào)告！日立S-3400N掃描電鏡、德國(guó)布魯克Xflash Detector 5010能譜儀，固體樣品均可，樣品應(yīng)經(jīng)過(guò)真空干燥處理，不含水分或其它易揮發(fā)成分。樣品厚度不能高于10mm，樣品直徑200mm。測(cè)試條件：加速電壓0.3~30kv，放大倍率5~300000倍，分辨率SE 3nm@30kv、10nm@3kv；BSE 4nm@30kv。可以測(cè)量固體樣品、薄膜、微粒的表面結(jié)構(gòu)，不導(dǎo)電的需噴金后測(cè)定。

掃描電鏡快速檢測(cè)，SEM現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)-國(guó)科控股資質(zhì)檢測(cè)機(jī)構(gòu)

掃描電鏡測(cè)試SEM可提供表面結(jié)構(gòu)測(cè)試，進(jìn)行樣品微觀分析，掃描式顯微鏡可放大到30萬(wàn)倍以上，可測(cè)試項(xiàng)目廣泛。

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X射線能譜：入射電子和樣品進(jìn)行非彈性碰撞可產(chǎn)生連續(xù)x光和特征x光，前者系入射電子減速所放出的連續(xù)光譜，形成背景決定zui少分析之量，后者系特定能階間之能量差，可藉以分析成分元素。

元素分析：
可以測(cè)試的金屬元素有： 鋰（li）、鈹（be）、 鈉（na）、鎂（mg）、鋁（al）、 鉀（k）、鈣（ca）、鈦（ti）、釩（v）、鉻（cr）、錳（mn）、鐵（fe）,鈷（co）、鎳（ni）、銅（cu）、鋅（zn）、鎵（ga）、...

 特別推出紅外（F?IR）、DSC(差視熱量掃描儀)、TGA（熱失重分析）、TGA-FIR聯(lián)用、DMA動(dòng)態(tài)力學(xué)分析儀、塑料導(dǎo)熱系數(shù)、塑料配方剖析未知物成分分析、激光粒度儀、TEM（透射電鏡）、SEM（掃描電鏡）的測(cè)試。

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